磁光克爾效應磁滯回線測量儀產品簡介

從當下主流的機械硬盤，到未來的磁性存儲單元，磁滯回線測量都是評估薄膜性質的重要手段。 相較于電學霍爾測量和震動磁強計，光磁克爾效應具有測量速度快，精度高，非侵入，且不需要對樣品進行加工或切片等操作的特點。通過對磁滯回線的分析，用戶不但可以得到矯頑力及相對磁化強度等信息，亦可了解磁性薄膜磁各向異性等性質。針對不同矯頑力的多層磁性薄膜結構，磁光克爾測量可以分析出逐層的磁滯回線信息。

上海屹持光電提供的磁滯回線測量儀標準系統(tǒng)按照性能優(yōu)先，穩(wěn)定性優(yōu)先的設計思路，可以滿足實驗室研究及工業(yè)生產 中各種磁性薄膜材料的測試需求。針對不同磁各向異性材料的光學響應，我們提供兩種測試組件：PMA Checker 以及 IMA Looper，兩種系統(tǒng)共享一套數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，切換方便?！翱刂坪?光磁主體+電腦"的套裝（如上圖所示）即是完整的設備，無需任何外置儀表（電源，鎖相放大器）客戶即可快速完成磁滯回線的測量；此外，客戶可以自主選擇使用鎖相放大器（SR830/810，Zurich MFLI）進行數(shù)據(jù)采集，該設備預留了與鎖相放大器匹配的接口。

該磁滯回線測量儀產品提供基于 LabView的程序，方便客戶快速上手?；?C，Python的控制程序也可應客戶要求提供。

磁光克爾效應磁滯回線測量儀應用案例

? 自旋/磁電子學
? 磁性納米技術
? 非易失性磁性隨機存儲器
? 磁阻研究
? 磁性薄膜

? 磁性傳感器

右圖測試樣品結構（Si 襯底/MgO (2)/Pt (4)/Co (0.2)/[Ni (0.2)/Co (0.2)] 2 /X(2)/MgO (1)/Si (3)  （厚度為納米，X=Pt, Cu, MgO, Ir, Ta, W, and Hf ）

磁滯回線測量儀技術參數(shù)

1  更大磁場強度可按需定制
2  該尺寸不包含光學及電學連接器伸出的部分

該系統(tǒng)的定位是為客戶提供穩(wěn)定、快捷、磁滯回線測量設備，簡單并且可靠。如需更多附加功能，例如：磁疇成像，微區(qū)測量，集成溫控設備，集成電學測量設備，集成樣品掃描成像等選項，我們建議客戶考慮 TTT-Mag-Kerr Microscope 系列產品。